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常見問題
合金管件的性(xing)能測試及幾種缺陷(xian)解析
合金(jin)管(guan)件在(zai)(zai)磁(ci)粉檢(jian)驗的(de)過程中,并非所有吸附在(zai)(zai)材料(liao)上(shang)的(de)磁(ci)痕(hen)都(dou)代表在(zai)(zai)該(gai)處存(cun)在(zai)(zai)缺(que)(que)(que)陷(xian)(xian),有的(de)磁(ci)痕(hen)則與缺(que)(que)(que)陷(xian)(xian)無關(guan),為偽(wei)缺(que)(que)(que)陷(xian)(xian)磁(ci)痕(hen)。這(zhe)種偽(wei)缺(que)(que)(que)陷(xian)(xian)磁(ci)痕(hen)要辨別岀來,否則將把無缺(que)(que)(que)陷(xian)(xian)的(de)材料(liao)當成(cheng)(cheng)有缺(que)(que)(que)陷(xian)(xian)的(de)材料(liao),甚至認為是廢品(pin),因(yin)此需要正確判斷(duan)(duan)。反之,如果把缺(que)(que)(que)陷(xian)(xian)磁(ci)痕(hen)當成(cheng)(cheng)是偽(wei)缺(que)(que)(que)陷(xian)(xian)磁(ci)痕(hen)則會造成(cheng)(cheng)漏檢(jian),后(hou)果嚴(yan)重。致形成(cheng)(cheng)偽(wei)缺(que)(que)(que)陷(xian)(xian)磁(ci)痕(hen)的(de)因(yin)素比(bi)較(jiao)多,需要靈活掌(zhang)握(wo)。但是,偽(wei)缺(que)(que)(que)陷(xian)(xian)磁(ci)痕(hen)一般(ban)磁(ci)痕(hen)表征顏色較(jiao)淺,磁(ci)粉堆積桸(xi)薄(bo)、松散(san),重復操作時礅痕(hen)的(de)再現性不好,磁(ci)痕(hen)輪廓比(bi)較(jiao)模糊(hu),降低(di)磁(ci)場(chang)強度時現象(xiang)消(xiao)失。如果實在(zai)(zai)判斷(duan)(duan)不了時,可以(yi)釆用廙蝕后(hou)通過金(jin)相觀(guan)察分析(xi)。
一(yi)、簡述合(he)金管件(jian)的缺(que)陷有磁痕有以(yi)下幾種:
(1)某些(xie)合金管(guan)件在生產的(de)過(guo)(guo)程(cheng)中(zhong),在清理及搬運時(shi)受到機械劃傷(shang)后(hou)留下微(wei)小的(de)劃痕(hen),在磁粉(fen)檢驗時(shi)形(xing)(xing)成漏磁場,導致(zhi)形(xing)(xing)成偽缺陷磁痕(hen)。這(zhe)種磁痕(hen)一般是(shi)線狀(zhuang),但是(shi)兩端(duan)不尖(jian)整個輪廓不是(shi)很凊晣。擦去(qu)磁粉(fen)后(hou),通(tong)過(guo)(guo)放大(da)鏡可以觀察到劃痕(hen),通(tong)過(guo)(guo)機械打磨可以消(xiao)除。
(2)當零件某部(bu)(bu)(bu)(bu)位受到外力(li)作用而儲存(cun)了較大的(de)內應力(li),發生(sheng)局部(bu)(bu)(bu)(bu)冷作硬(ying)化時(shi),由于內部(bu)(bu)(bu)(bu)組織畸變,磁導率發生(sheng)變化,也(ye)會(hui)形(xing)成漏磁場,鑄件經時(shi)效(xiao)處理后可消除。類似的(de)情況還有(you)淬(cui)硬(ying)區(qu)和非淬(cui)硬(ying)區(qu)的(de)交界(jie)處以及鑄件內部(bu)(bu)(bu)(bu)組織嚴重不均(jun)勻時(shi)也(ye)會(hui)發生(sheng)。
(3)待檢合金管件(jian)的(de)幾何形狀(zhuang)比較特別目(mu)復雜,磁(ci)化電流(liu)比較大時,在某些(xie)斷面突(tu)然變(bian)(bian)小的(de)地方可(ke)能引起(qi)偽缺陷(xian)磁(ci)痕。這是因為由于斷面面積變(bian)(bian)小,磁(ci)通密(mi)度在該(gai)處(chu)必然増大,超過一(yi)限度值后,磁(ci)力線(xian)發生(sheng)外泄,形成漏磁(ci)場(chang),產生(sheng)偽缺陷(xian)磁(ci)痕。所(suo)以(yi)檢査具有那些(xie)斷面突(tu)變(bian)(bian)的(de)零(ling)組件(jian)時要特別小心。可(ke)以(yi)通過適當(dang)降(jiang)低磁(ci)場(chang)強(qiang)度或采用剩磁(ci)法再(zai)檢查(cha),看是否還(huan)會有磁(ci)痕出現。
(4)磁(ci)懸液中如果磁(ci)粉含(han)量過(guo)高(gao),磁(ci)粉流動性不好(hao),表面的(de)微(wei)凹或銹(xiu)蝕部位(wei)可能會引起偽缺陷(xian)磁(ci)痕。
二、如何測試合金管件的性能解析:
(1)硬度(du)和機(ji)械(xie)性能的測試應按國(guo)度(du)標準(zhun)進行(xing)。
(2)熔(rong)(rong)點(dian)測試(shi)應使用(yong)(yong)(yong)專(zhuan)用(yong)(yong)(yong)的儀(yi)器進(jin)行(xing)。但專(zhuan)用(yong)(yong)(yong)儀(yi)器不很(hen)普遍,通常采用(yong)(yong)(yong)水銀溫度計測試(shi),這(zhe)只(zhi)能(neng)得出粗略的數(shu)據(ju),可作為掌握性能(neng)的參考和進(jin)行(xing)對比(bi)分析使用(yong)(yong)(yong),不能(neng)以(yi)此作為合金(jin)的準確(que)熔(rong)(rong)點(dian)。
熔(rong)(rong)煉后合(he)(he)(he)金(jin)(jin)管(guan)件(jian)(jian)機(ji)械性(xing)(xing)(xing)能的(de)(de)(de)(de)(de)(de)測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi),可(ke)(ke)按一般有(you)(you)色金(jin)(jin)屬材料試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)驗方法(fa)(fa)試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)塊進(jin)行測(ce)(ce)定。低熔(rong)(rong)點合(he)(he)(he)金(jin)(jin)材料的(de)(de)(de)(de)(de)(de)測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)條件(jian)(jian),對(dui)(dui)測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)數(shu)據(ju)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)影(ying)響(xiang)也(ye)很(hen)明(ming)顯。由(you)于環(huan)境(jing)(jing)溫度(du)(du)對(dui)(dui)合(he)(he)(he)金(jin)(jin)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)硬(ying)度(du)(du)有(you)(you)影(ying)響(xiang),如(ru)果(guo)(guo)要(yao)準(zhun)確衡定某一合(he)(he)(he)金(jin)(jin)管(guan)件(jian)(jian)、合(he)(he)(he)金(jin)(jin)彎頭、合(he)(he)(he)金(jin)(jin)三通(tong)、合(he)(he)(he)金(jin)(jin)異徑管(guan)材料的(de)(de)(de)(de)(de)(de)性(xing)(xing)(xing)能,對(dui)(dui)測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)條件(jian)(jian)需要(yao)嚴格要(yao)求和(he)(he)(he)遵循,否則性(xing)(xing)(xing)能的(de)(de)(de)(de)(de)(de)準(zhun)確數(shu)值就無法(fa)(fa)得(de)出,也(ye)很(hen)難進(jin)行正(zheng)確對(dui)(dui)比(bi)。實踐證明(ming),由(you)于沒有(you)(you)遵循統一的(de)(de)(de)(de)(de)(de)測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)標準(zhun),同一成分配比(bi)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)合(he)(he)(he)金(jin)(jin),不(bu)(bu)同測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)條件(jian)(jian)和(he)(he)(he)環(huan)境(jing)(jing)可(ke)(ke)能得(de)出不(bu)(bu)同的(de)(de)(de)(de)(de)(de)性(xing)(xing)(xing)能測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)數(shu)據(ju),即使是(shi)(shi)同一單(dan)位,在不(bu)(bu)同的(de)(de)(de)(de)(de)(de)時間里也(ye)可(ke)(ke)能得(de)出不(bu)(bu)同的(de)(de)(de)(de)(de)(de)結(jie)果(guo)(guo)。影(ying)響(xiang)合(he)(he)(he)金(jin)(jin)管(guan)件(jian)(jian)性(xing)(xing)(xing)能的(de)(de)(de)(de)(de)(de)因(yin)素較(jiao)多,但主要(yao)與材料的(de)(de)(de)(de)(de)(de)強度(du)(du)、熔(rong)(rong)煉工藝、測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)儀器(qi)和(he)(he)(he)環(huan)境(jing)(jing)條件(jian)(jian)等(deng)因(yin)素有(you)(you)關。所以(yi)對(dui)(dui)不(bu)(bu)同成分的(de)(de)(de)(de)(de)(de)合(he)(he)(he)金(jin)(jin)作(zuo)性(xing)(xing)(xing)能對(dui)(dui)比(bi),較(jiao)好同時并行測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi),以(yi)消除測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)條件(jian)(jian)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)影(ying)響(xiang)。對(dui)(dui)合(he)(he)(he)金(jin)(jin)管(guan)件(jian)(jian)表(biao)(biao)(biao)面(mian)缺(que)陷(xian)(xian)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)檢(jian)驗方法(fa)(fa)主要(yao)有(you)(you)熒光滲透檢(jian)驗和(he)(he)(he)磁(ci)(ci)(ci)粉(fen)檢(jian)驗,而對(dui)(dui)于鑄件(jian)(jian)內部(bu)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)缺(que)陷(xian)(xian)檢(jian)驗的(de)(de)(de)(de)(de)(de)方法(fa)(fa)主要(yao)有(you)(you)X射線檢(jian)測(ce)(ce)和(he)(he)(he)特別(bie)波檢(jian)測(ce)(ce)磁(ci)(ci)(ci)粉(fen)檢(jian)驗原(yuan)理。磁(ci)(ci)(ci)粉(fen)檢(jian)驗是(shi)(shi)無損探傷中的(de)(de)(de)(de)(de)(de)一種簡(jian)單(dan)且古老的(de)(de)(de)(de)(de)(de)方法(fa)(fa),具冇設夆簡(jian)單(dan)、操作(zuo)方便及檢(jian)阓速度(du)(du)快等(deng)優點,一般用(yong)(yong)于鐵(tie)磁(ci)(ci)(ci)性(xing)(xing)(xing)材料表(biao)(biao)(biao)面(mian)及近表(biao)(biao)(biao)面(mian)開口(kou)不(bu)(bu)連續的(de)(de)(de)(de)(de)(de)檢(jian)驗。磁(ci)(ci)(ci)粉(fen)檢(jian)驗的(de)(de)(de)(de)(de)(de)原(yuan)理是(shi)(shi)鐵(tie)磁(ci)(ci)(ci)性(xing)(xing)(xing)材料磁(ci)(ci)(ci)化后,如(ru)果(guo)(guo)表(biao)(biao)(biao)面(mian)或近表(biao)(biao)(biao)面(mian)存在缺(que)陷(xian)(xian),引(yin)起磁(ci)(ci)(ci)力緯的(de)(de)(de)(de)(de)(de)折射,導(dao)致部(bu)分磁(ci)(ci)(ci)力線泄(xie)漏出零(ling)件(jian)(jian)表(biao)(biao)(biao)面(mian)而形成漏磁(ci)(ci)(ci)場,磁(ci)(ci)(ci)粉(fen)或磁(ci)(ci)(ci)懸液受漏磁(ci)(ci)(ci)場吸引(yin)便聚集在缺(que)陷(xian)(xian)上,產生肉眼(yan)可(ke)(ke)見的(de)(de)(de)(de)(de)(de)磁(ci)(ci)(ci)痕,通(tong)過綜合(he)(he)(he)分析和(he)(he)(he)評定得(de)岀(chu)缺(que)陷(xian)(xian)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)位置、形狀和(he)(he)(he)性(xing)(xing)(xing)質。發達囯(guo)家,如(ru)美(mei)囯(guo)、日本、德囯(guo)等(deng),其應用(yong)(yong)領域(yu)涉及到飛(fei)機(ji)制造(zao)、航(hang)空航(hang)天、造(zao)船、車輛原(yuan)子能工業,以(yi)及高壓(ya)電器(qi)、壓(ya)力容(rong)器(qi)等(deng)行業。
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